Automation Of An I-V Characterization System
Noriega, J. R.; Vera Marquina, A.; Acosta Enríquez, C.
Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM, publicado en Journal of Applied Research and Technology, y cosechado de Revistas UNAM
dor_id: 45438
506.#.#.a: Público
590.#.#.d: Los artículos enviados a la revista "Journal of Applied Research and Technology", se juzgan por medio de un proceso de revisión por pares
510.0.#.a: Scopus, Directory of Open Access Journals (DOAJ); Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex); Indice de Revistas Latinoamericanas en Ciencias (Periódica); La Red de Revistas Científicas de América Latina y el Caribe, España y Portugal (Redalyc); Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT); Google Scholar Citation
561.#.#.u: https://www.icat.unam.mx/
650.#.4.x: Ingenierías
336.#.#.b: article
336.#.#.3: Artículo de Investigación
336.#.#.a: Artículo
351.#.#.6: https://jart.icat.unam.mx/index.php/jart
351.#.#.b: Journal of Applied Research and Technology
351.#.#.a: Artículos
harvesting_group: RevistasUNAM
270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx
590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)
270.#.#.d: MX
270.1.#.d: México
590.#.#.b: Concentrador
883.#.#.u: https://revistas.unam.mx/catalogo/
883.#.#.a: Revistas UNAM
590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural
883.#.#.1: https://www.publicaciones.unam.mx/
883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial
850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México
856.4.0.u: https://jart.icat.unam.mx/index.php/jart/article/view/471/467
100.1.#.a: Noriega, J. R.; Vera Marquina, A.; Acosta Enríquez, C.
524.#.#.a: Noriega, J. R., et al. (2010). Automation Of An I-V Characterization System. Journal of Applied Research and Technology; Vol. 8 Núm. 02. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/45438
245.1.0.a: Automation Of An I-V Characterization System
502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México
561.1.#.a: Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM
264.#.0.c: 2010
264.#.1.c: 2010-08-01
653.#.#.a: Electronic equipment; FETs; Transistor; Electronics engineering
506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-SA 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/legalcode.es, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio del correo electrónico gabriel.ascanio@icat.unam.mx
884.#.#.k: https://jart.icat.unam.mx/index.php/jart/article/view/471
001.#.#.#: 074.oai:ojs2.localhost:article/471
041.#.7.h: eng
520.3.#.a: En este trabajo se presenta la automatización de un instrumento I-V desarrollado para la caracterización de dispositivos electrónicos en aplicaciones tanto en docencia como en investigación. Este instrumento virtual puede ser usado para ilustrar los principios de la medición, instrumentación, fundamentos de la electrónica, programación, pruebas eléctricas de dispositivos semiconductores y caracterización de dispositivos discretos en substrato. Consiste de un electrómetro Keithley, modelo 6514, una fuente de voltaje programable BK Precision modelo 1770, medidor Keithley modelo 2400-LV, un multímetro digital Agilent modelo 34401 y una computadora PC con software LabVIEW.Los instrumentos son interconectados usando el protocolo IEEE 488. Las curvas características de los dispositivos son graficadas a partir de los datos medidos y previo procesamiento computacional. Este instrumento se usa en cursos de física electrónica y en cursos avanzados de diseño VLSI y en la caracterización de materiales semiconductores y dispositivos. Este artículo describe el diseño del instrumento, implementación y experimentos de caracterización.
773.1.#.t: Journal of Applied Research and Technology; Vol. 8 Núm. 02
773.1.#.o: https://jart.icat.unam.mx/index.php/jart
022.#.#.a: ISSN electrónico: 2448-6736; ISSN: 1665-6423
310.#.#.a: Bimestral
264.#.1.b: Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM
doi: https://doi.org/10.22201/icat.16656423.2010.8.02.471
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245.1.0.b: Automation Of An I-V Characterization System
last_modified: 2024-03-19 14:00:00
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Noriega, J. R.; Vera Marquina, A.; Acosta Enríquez, C.
Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM, publicado en Journal of Applied Research and Technology, y cosechado de Revistas UNAM
Noriega, J. R., et al. (2010). Automation Of An I-V Characterization System. Journal of Applied Research and Technology; Vol. 8 Núm. 02. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/45438