dor_id: 41412

506.#.#.a: Público

590.#.#.d: Los artículos enviados a la Revista Mexicana de Física se someten a un estricto proceso de revisión llevado a cabo por árbitros anónimos, independientes y especializados en todo el mundo.

510.0.#.a: Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT), Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex), Scientific Electronic Library Online (SciELO), SCOPUS, Web Of Science (WoS)

561.#.#.u: http://www.fciencias.unam.mx/

650.#.4.x: Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra

336.#.#.b: info:eu-repo/semantics/article

336.#.#.3: Artículo de Investigación

336.#.#.a: Artículo

351.#.#.6: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

351.#.#.b: Revista Mexicana de Física

351.#.#.a: Artículos

harvesting_group: RevistasUNAM

270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)

270.#.#.d: MX

270.1.#.d: México

590.#.#.b: Concentrador

883.#.#.u: http://www.revistas.unam.mx/front/

883.#.#.a: Revistas UNAM

590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural

883.#.#.1: http://www.publicaciones.unam.mx/

883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM

850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México

856.4.0.u: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/article/view/3547/3514

100.1.#.a: Bruce, N. C.; García Valenzuela, A.

524.#.#.a: Bruce, N. C., et al. (2007). Capacitance of a plate capacitor with one band-limited fractal rough surface. Revista Mexicana de Física; Vol 53, No 4: 296-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41412

245.1.0.a: Capacitance of a plate capacitor with one band-limited fractal rough surface

502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México

561.1.#.a: Facultad de Ciencias, UNAM

264.#.0.c: 2007

264.#.1.c: 2007-01-01

653.#.#.a: Capacitance; fractal surfaces; capacitance microscopy

506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-ND 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia 2007-01-01, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio de rmf@ciencias.unam.mx

884.#.#.k: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/article/view/3547

001.#.#.#: oai:ojs.rmf.smf.mx:article/3547

041.#.7.h: eng

520.3.#.a: The problem of the capacitance between a band-limited, zero-mean, fractal shaped-rough surface and a plane electrode is investigated. Five parameters are required to define the rough surface: \σ , the rms height, D (14. The numerical results also indicate that the surface roughness can be interpreted as an equivalent dielectric film with an effective dielectric constant and effective thickness for surprisingly small minimum electrode separations. Our findings in this paper can be used to complement established techniques for the experimental determination of the statistical parameters of the surface roughness of conducting surfaces.

773.1.#.t: Revista Mexicana de Física; Vol 53, No 4 (2007): 296-0

773.1.#.o: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

046.#.#.j: 2020-11-25 00:00:00.000000

022.#.#.a: 2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

310.#.#.a: Bimestral

264.#.1.b: Sociedad Mexicana de Física, A.C.

758.#.#.1: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

handle: 00911b3379387e0d

harvesting_date: 2020-09-23 00:00:00.0

856.#.0.q: application/pdf

last_modified: 2020-11-27 00:00:00

license_url: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es

license_type: by-nc-nd

_deleted_conflicts: 6-9e424c2c593fa86c469d63d4602de393,2-4c3be1b8f8bc1cccf681721b72830aba

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