dor_id: 4107936

506.#.#.a: Público

590.#.#.d: Los artículos enviados a la Revista Mexicana de Física se someten a un estricto proceso de revisión llevado a cabo por árbitros anónimos, independientes y especializados en todo el mundo.

510.0.#.a: Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT), Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex), Scientific Electronic Library Online (SciELO), SCOPUS, Web Of Science (WoS)

561.#.#.u: http://www.fciencias.unam.mx/

650.#.4.x: Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra

336.#.#.b: info:eu-repo/semantics/article

336.#.#.3: Artículo de Investigación

336.#.#.a: Artículo

351.#.#.6: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

351.#.#.b: Revista Mexicana de Física

351.#.#.a: Artículos

harvesting_group: RevistasUNAM

270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)

270.#.#.d: MX

270.1.#.d: México

590.#.#.b: Concentrador

883.#.#.u: http://www.revistas.unam.mx/front/

883.#.#.a: Revistas UNAM

590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural

883.#.#.1: http://www.publicaciones.unam.mx/

883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM

850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México

856.4.0.u: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/article/view/325/170

100.1.#.a: Fermin, José R.

524.#.#.a: Fermin, José R. (2017). Dependence of exchange bias in NiFe/NiO bilayers on film thickness. Revista Mexicana de Física; Vol 63, No 2 Mar-Apr: 145-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4107936

245.1.0.a: Dependence of exchange bias in NiFe/NiO bilayers on film thickness

502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México

561.1.#.a: Facultad de Ciencias, UNAM

264.#.0.c: 2017

264.#.1.c: 2017-01-01

653.#.#.a: Exchange-bias; unidirectional anisotropy; NiFe/NiO bilayers; magnetic biasing materials; exchange bias symmetry

506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-ND 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia 2017-01-01, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio de rmf@ciencias.unam.mx

884.#.#.k: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/article/view/325

001.#.#.#: oai:ojs.rmf.smf.mx:article/325

041.#.7.h: eng

520.3.#.a: Here we report on the effect of the ferromagnetic (FM) and antiferromagnetic (AF) films thicknesses on the exchange bias field in a FM/AF bilayer. For this, a series of NiFe(t \textrm NiFe)/NiO(t \textrm NiO) bilayers were grown by DC magnetron sputtering onto commercial Si(001) wafers. Magneto-optical hysteresis loops were used as probes to measure the exchange-bias field, and the coercivity field, as functions of the in-plane angle, \varphiH, and the films' thicknesses, t \textrm NiFe and t \textrm NiO. The in-plane symmetry of the exchange field and coercivity display unidirectional and uniaxial anisotropies, with angular dependences different from the simple \cos \varphiH and cos 2 \varphiH, respectively. These symmetries are intrinsically sensitive to the thickness of both NiFe and NiO layers. With respect to the FM layer thickness, the exchange bias and coercivity field follow the usual 1/t \textrm NiFe, while the dependence on the thickness of the AF layer is more complicated, and is characterized by a critical behavior.

773.1.#.t: Revista Mexicana de Física; Vol 63, No 2 Mar-Apr (2017): 145-0

773.1.#.o: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

046.#.#.j: 2020-11-25 00:00:00.000000

022.#.#.a: 2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

310.#.#.a: Bimestral

264.#.1.b: Sociedad Mexicana de Física, A.C.

758.#.#.1: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

handle: 00bffc8bcdd11455

harvesting_date: 2020-09-23 00:00:00.0

856.#.0.q: application/pdf

last_modified: 2020-11-27 00:00:00

license_url: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es

license_type: by-nc-nd

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