dor_id: 41042

506.#.#.a: Público

590.#.#.d: Los artículos enviados a la Revista Mexicana de Física se someten a un estricto proceso de revisión llevado a cabo por árbitros anónimos, independientes y especializados en todo el mundo.

510.0.#.a: Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT), Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex), Scientific Electronic Library Online (SciELO), SCOPUS, Web Of Science (WoS)

561.#.#.u: http://www.fciencias.unam.mx/

650.#.4.x: Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra

336.#.#.b: info:eu-repo/semantics/article

336.#.#.3: Artículo de Investigación

336.#.#.a: Artículo

351.#.#.6: http://revistas.unam.mx/index.php/rmf

351.#.#.b: Revista Mexicana de Física

351.#.#.a: Artículos

harvesting_group: RevistasUNAM

270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)

270.#.#.d: MX

270.1.#.d: México

590.#.#.b: Concentrador

883.#.#.u: http://www.revistas.unam.mx/front/

883.#.#.a: Revistas UNAM

590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural

883.#.#.1: http://www.publicaciones.unam.mx/

883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM

850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México

856.4.0.u: http://revistas.unam.mx/index.php/rmf/article/view/13803/13140

100.1.#.a: Madrigal Melchor, J.; Pérez Rodríguez, F.; Atenco Analco, N.

524.#.#.a: Madrigal Melchor, J., et al. (2002). Dispersión de la luz por la superficie rugosa de una película excitónica delgada sobre un substrato metálico. Atenco-analco. Revista Mexicana de Física; Vol 48, No 003. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41042

245.1.0.a: Dispersión de la luz por la superficie rugosa de una película excitónica delgada sobre un substrato metálico. Atenco-analco

502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México

561.1.#.a: Facultad de Ciencias, UNAM

264.#.0.c: 2002

264.#.1.c: 2002-01-01

653.#.#.a: Excitón; Dispersión Espacial; Reflexión Difusa; Películas Semiconductoras Delgadas

506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-ND 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia 2002-01-01, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio de rmf@ciencias.unam.mx

884.#.#.k: http://revistas.unam.mx/index.php/rmf/article/view/13803

041.#.7.h: spa

520.3.#.a: Se investiga teóricamente el efecto de la dispersión espacial en una película semiconductora con rugosidad superficial aleatoria, depositada sobre un substrato metálico, sobre el coeficiente de reflexión diferencial. La investigación se realiza cerca de la resonancia excitónica donde la no-localidad es fuerte y conduce a la generación de ondas polaritónicas adicionales. aplicando una teoría de perturbación a primer orden, calculamos las dependencias angular y de frecuencia del coeficiente de reflexión diferencial para el caso de una rugosidad unidimensional. los espectros de reflexión difusa de cucl sobre un metal de al para luz incidente con polarización s presentan resonancias pronunciadas (picos) en las frecuencias que satisfacen las condiciones fabry-perot para los modos polaritónicos adicionales. estas condiciones corresponden también a la cuantización del movimiento translacional del excitón. nuestros resultados muestran la utilidad del espectro de reflexión difusa para estudiar la excitación de los modos polaritónicos cuantizados en películas no locales.

773.1.#.t: Revista Mexicana de Física; Vol 48, No 003 (2002)

773.1.#.o: http://revistas.unam.mx/index.php/rmf

046.#.#.j: 2020-11-25 00:00:00.000000

022.#.#.a: 2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

310.#.#.a: Bimestral

264.#.1.b: Sociedad Mexicana de Física, A.C.

758.#.#.1: http://revistas.unam.mx/index.php/rmf

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harvesting_date: 2020-09-23 00:00:00.0

856.#.0.q: application/pdf

last_modified: 2020-11-27 00:00:00

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