dor_id: 4121833
506.#.#.a: Público
590.#.#.d: Los artículos enviados a la revista "Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología", se juzgan por medio de un proceso de revisión por pares
510.0.#.a: Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT); Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex); Directory of Open Access Journals (DOAJ); Red Iberoamericana de Innovación y Conocimiento Científico (REDIB); Scientific Electronic Library Online (SciELO)
561.#.#.u: https://www.ceiich.unam.mx/0/index.php
650.#.4.x: Multidisciplina
336.#.#.b: article
336.#.#.3: Artículo de Investigación
336.#.#.a: Artículo
351.#.#.6: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index
351.#.#.b: Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología
351.#.#.a: Artículos
harvesting_group: RevistasUNAM
270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx
590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)
270.#.#.d: MX
270.1.#.d: México
590.#.#.b: Concentrador
883.#.#.u: https://revistas.unam.mx/catalogo/
883.#.#.a: Revistas UNAM
590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural
883.#.#.1: https://www.publicaciones.unam.mx/
883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial
850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México
856.4.0.u: http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/67334/61246
100.1.#.a: Rivera Hernandez, Margarita; Arenas-Alatorre, Jesús
524.#.#.a: Rivera Hernandez, Margarita, et al. (2019). From micrometers to picometers: evolution of microscopy techniques for the study of nanomaterials. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 12 Núm. 23, 2019; 1e-25e. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4121833
245.1.0.a: From micrometers to picometers: evolution of microscopy techniques for the study of nanomaterials
502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México
561.1.#.a: Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM
264.#.0.c: 2019
264.#.1.c: 2019-04-21
506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/legalcode.es, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio del correo electrónico giandelgado@unam.mx
884.#.#.k: http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/67334
001.#.#.#: 083.oai:ojs.pkp.sfu.ca:article/67334
041.#.7.h: spa
520.3.#.a: Over the last few decades, electron microscopy (EM) and scanning probe microscopy (SPM) techniques have had a great contribution to the study of nanomaterials in many research fields, providing morphological, structural, interfacial, electric and magnetic information, among many others. Recent technological advances of these techniques have helped to achieve unprecedent spatial resolution limits unimaginable 25 years ago, being the last reported values of tenths of picometers (10-12 m). In addition, these techniques have grown in analytical capabilities in the nanoscience and nanotechnology fields, resulting in new independent, or even complimentary, techniques that have improved the understanding of interaction phenomena and physicochemical properties at the atomic and molecular scale. In this paper, an analysis of the actual importance of these techniques as well as some of their recent characterization and analytical achievements are discussed. Finally, in view of its enormous progress and large potential in the study and understanding of physical and chemical processes at the nanoscale, future challenges and perspectives are underlined.
773.1.#.t: Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 12 Núm. 23 (2019); 1e-25e
773.1.#.o: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index
022.#.#.a: ISSN electrónico: 2448-5691; ISSN impreso: 2007-5979
310.#.#.a: Semestral
300.#.#.a: Páginas: 1e-25e
264.#.1.b: Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM
doi: https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2019.23.67334
harvesting_date: 2023-10-03 16:10:00.0
856.#.0.q: application/pdf
file_creation_date: 2019-04-08 23:24:35.0
file_modification_date: 2019-04-08 23:24:37.0
file_name: 7691a1f1a7075bf0e3bb05ba9ea0184ac8f95b9edb500b6ede6732b87313d241.pdf
file_pages_number: 25
file_format_version: application/pdf; version=1.4
file_size: 2056847
245.1.0.b: De los micrómetros a los picómetros: evolución de las técnicas de microscopía para el estudio de nanomateriales
last_modified: 2023-10-03 16:00:00
license_url: https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/legalcode.es
license_type: by-nc
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