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Artículo

High resolution spectroscopy in gases and its application on the frequency stabilization of semiconductor lasers

López, E. de Carlos; López Romero, J. M.

Facultad de Ciencias, UNAM, publicado en Revista Mexicana de Física, y cosechado de Revistas UNAM

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Facultad de Ciencias, UNAM
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Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

Cita

López, E. de Carlos, et al. (2004). High resolution spectroscopy in gases and its application on the frequency stabilization of semiconductor lasers. Revista Mexicana de Física; Vol 50, No 6: 569-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/40796

Descripción del recurso

Autor(es)
López, E. de Carlos; López Romero, J. M.
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra
Título
High resolution spectroscopy in gases and its application on the frequency stabilization of semiconductor lasers
Fecha
2004-01-01
Resumen
The gas spectroscopy is a standard technique for frequency stabilization in semiconductor lasers. The Doppler effect is what exerts most influence on the linewidths of atomic spectrum increments. In the present work, the saturation spectroscopy, whose main characteristic is to cancel the undesirable consequences of this effect, is studied. Different techniques of dispersion-like signals generation are revised, and are used as error signals in the stabilization of semiconductor lasers. From a different point of view, these techniques are reviewed and being compared. Moreover, the experimental results of Cesium 133 spectroscopy made at Centro Nacional de Metrología, CENAM, are exhibited herein.
Tema
Saturation spectroscopy; semiconductor laser stabilization
Idioma
eng
ISSN
2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

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