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doi: https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2010.2.52223

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No entro en nada

No entro en nada 2

Artículo

Utilidad de la difracción de rayos x en las nanociencias

Aparicio Ceja, Martha Eloísa; Carbajal Arizaga, Gregorio Guadalupe

Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM, publicado en Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología, y cosechado de Revistas UNAM

Licencia de uso

Procedencia del contenido

Cita

Aparicio Ceja, Martha Eloísa, et al. (2010). Utilidad de la difracción de rayos x en las nanociencias. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 3 Núm. 2, 2010. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/57239

Descripción del recurso

Autor(es)
Aparicio Ceja, Martha Eloísa; Carbajal Arizaga, Gregorio Guadalupe
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Multidisciplina
Título
Utilidad de la difracción de rayos x en las nanociencias
Fecha
2015-04-12
Resumen
La difracci.n de rayos x (DRX) es una herramienta que se ha utilizado durante el último siglo para el estudio de minerales, compuestos y materiales. Las nanociencias descubrieron que en dimensiones nanométricas, materiales antes conocidos muestran nuevos fenómenos y propiedades. Esto llevó a que se aplicaran técnicas de caracterización en estado sólido tradicionales, como la DRX a sistemas nanométricos. En este trabajo recopilamos casos publicados principalmente en América Latina en los que la DRX ayuda resolver problemas en la escala nano.
Idioma
spa
ISSN
ISSN electrónico: 2448-5691; ISSN impreso: 2007-5979

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